多測試系統SHIBASOKU芝測WL15VWI高耐壓泄漏測試民用設備，音響，運算放大器DC - DC，電池管理IC等SCV系列，多樣的顧客的需求的構成，提供高性能緊湊的模擬IC測試系統。作工
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WL15VWI
四個同時測定GBT, MOSFET, SBD, FRD, IPM, IPD, Chip
2000 V / 30 A
四個同時測量方法例
+ 2000 V±20毫安
±128 V±5 A
±60 V±30 A
±64 V±160毫安
zui大32個同時測量可能
高真空度而言，高溫低溫開始到業界zui高水平，5 kv高耐壓泄漏試驗。
次世代ー半導體材料的SiC /氮化鎵也對應
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